艾斯瑞來(lái)談?wù)凥AST試驗(yàn)的重要性及試驗(yàn)步驟
文章來(lái)源：http://m.yipin006.com/news/hybk/1946.html 發(fā)表時(shí)間：2022-12-21
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塑封器件具有體積小、重量輕、成本低、電氣性能優(yōu)良的特點(diǎn)。在發(fā)達(dá)國(guó)家，塑料包裝器件的發(fā)展早已成熟，取代陶瓷包裝器件的趨勢(shì)已經(jīng)確立。發(fā)達(dá)國(guó)家在很多年前就已經(jīng)成功地將塑封器件應(yīng)用到很多軍用電子設(shè)備上。然而，在我國(guó)，由于缺乏軍用塑封器件生產(chǎn)線，國(guó)內(nèi)工業(yè)塑封線不能全滿足軍用標(biāo)準(zhǔn)，特別是在高溫高濕環(huán)境試驗(yàn)后，塑封電路在超聲波檢測(cè)中的分層現(xiàn)象尤為嚴(yán)重。因此，雖然塑封器件有很多優(yōu)點(diǎn)，但短時(shí)間內(nèi)不可能在我國(guó)軍用電子元器件領(lǐng)域大規(guī)模用塑封器件替代陶瓷封裝電子元器件。
1.測(cè)試樣品的預(yù)處理
我們選取了不同封裝形式、不同封裝廠商、不同芯片面積、不同載板率的1#、2#和3#塑封器件進(jìn)行HAST測(cè)試。三種器件封裝形式、封裝廠商、芯片面積與載體面積之比的具體參數(shù)如表1所示。
根據(jù)GJB 7400的要求，對(duì)上述三種工業(yè)級(jí)塑封器件進(jìn)行如下測(cè)試:首先對(duì)1#、2#、3#三種塑封器件進(jìn)行篩選(包括溫度循環(huán)、老化、電氣測(cè)試、X射線和超聲波測(cè)試等。，共10余項(xiàng))。篩選完成后，根據(jù)GJB的說(shuō)法，選出22條合格線路1#、2#和3#。
700的D4分組測(cè)試需要預(yù)處理測(cè)試(包括:125℃烘烤24h，60℃60% RH濕浸測(cè)試40h，回流焊，清洗，烘干)。預(yù)處理后，對(duì)上述三個(gè)塑封電路的電氣參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試結(jié)果均合格(即預(yù)處理時(shí)未發(fā)現(xiàn)故障)。
2.HAST測(cè)試步驟和結(jié)論
(1)在130℃和85% RH 85% RH 100小時(shí)下進(jìn)行HAST試驗(yàn)
首先，對(duì)預(yù)處理后的電路進(jìn)行130℃和85% RH 85%RH 100h的強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)。測(cè)試了電路在130℃和85% RH 85%RH 100h HAST下的電參數(shù)。電路的電氣參數(shù)全部合格，與試驗(yàn)前相比無(wú)可見變化。
以上電路超聲波檢測(cè)結(jié)果顯示:1號(hào)、2號(hào)合格，無(wú)脫層現(xiàn)象。3號(hào)中約95%的器件有可見嚴(yán)重的脫層現(xiàn)象。圖1和圖2顯示了HAST測(cè)試前后三種塑料封裝器件的超聲波照片。從圖2中可以可見觀察到，3#試驗(yàn)后出現(xiàn)了大面積的分層。
(2)在130℃和85%相對(duì)濕度下進(jìn)行500小時(shí)的HAST試驗(yàn)
對(duì)于在100小時(shí)的強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱測(cè)試之后沒(méi)有分層的電路1#和2#繼續(xù)進(jìn)行500小時(shí)的HAST測(cè)試。測(cè)試后，電路的電氣參數(shù)全部合格，超聲波測(cè)試結(jié)果顯示沒(méi)有發(fā)現(xiàn)可見的分層現(xiàn)象。
簡(jiǎn)而言之，由結(jié)果表明，經(jīng)過(guò)100h HAST測(cè)試，三種工業(yè)級(jí)塑封器件的電參數(shù)均合格，無(wú)功能失效，1#和2#無(wú)可見分層現(xiàn)象。但3號(hào)出現(xiàn)了大量電路分層，說(shuō)明國(guó)內(nèi)工業(yè)塑封生產(chǎn)線還不能全滿足軍用級(jí)的要求。按照國(guó)軍標(biāo)要求進(jìn)行可靠性試驗(yàn)后，雖然電路的電氣參數(shù)滿足指標(biāo)要求，但分層帶來(lái)的可靠性問(wèn)題將極大地影響工業(yè)塑封器件在軍事領(lǐng)域的應(yīng)用。
